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依頼試験の手数料について

最終更新日 2022年2月22日

工業技術支援センターにおける依頼試験に係る手数料及び依頼者測定の機器使用料は次のとおりです。
(平成30年4月1日時点で改正の項目は赤字にしています。)

また、手数料・使用料の一覧をPDFでダウンロードできますので、ご利用ください。

手数料・使用料のお振込みで、ご利用できる金融機関については、収納可能金融機関一覧をご覧ください。

環境試験(依頼試験)

1試料24時間につき

環境試験(依頼試験)
試験項目手数料及び使用料の金額[単位:円]
市内
中小企業
市内
大企業
(1.3倍額)
市外企業
(1.5倍額)
塩水噴霧試験機によるもの2,9003,8004,400
恒温恒湿試験器によるもの2,7003,6004,100
キャピラリ電気泳動装置によるもの5,2006,8007,800
その他の環境試験一般的なもの1,0001,3001,500
複雑なもの3,3004,3005,000
証明書発行300300300

特性試験(依頼試験)

1試料1測定点につき(但し、摩擦試験については1試料につき)

特性試験(依頼試験)
試験項目手数料及び使用料の金額[単位:円]
特性装置名市内
中小企業
市内
大企業
(1.3倍額)
市外企業
(1.5倍額)
厚さ試験蛍光X線膜厚計一般的なもの2,4003,2003,600
複雑なもの6,1008,0009,200
電解式膜厚計2,7003,6004,100
粗さ・段差測定触針式表面形状測定器4,1005,4006,200
摩擦・硬さ試験ボールオンディスク8,00010,40012,000
摩擦摩耗試験機9,10011,90013,700
硬さ試験機6,0007,8009,000
密着性・付着性試験摩擦摩耗試験機10,20013,30015,300
接触角計4,3005,6006,500
皮膜抵抗試験皮膜抵抗器1,1001,5001,700
測色試験測色計1,1001,5001,700
透過率測定分光光度計1,2001,6001,800
膜厚・光学定数測定エリプソメータ6,4008,400
表面観察マイクロスコープ表面観察7001,0001,100
計測をともなうもの1,1001,5001,700
3D表面観察装置1,0001,3001,500

分析・観察(依頼試験)

測定単位は各装置の分析内容参照

分析・観察(依頼試験)
試験項目手数料及び使用料の金額[単位:円]
装置名分析内容市内
中小企業
市内
大企業
(1.3倍額)
市外企業
(1.5倍額)
金属等組成分析
(添加剤の分析を除く。)
めっき液分析1試料1成分につき2,3003,0003,500
X線回折装置定性分析1試料1測定点につき12,90016,80019,400
熱分析装置-1試料につき11,80015,40017,700
蛍光X線分析装置定性分析(一般的なもの)1試料1測定点につき7,6009,90011,400
定性分析(複雑なもの)1試料1測定点につき9,80012,80014,700
走査型電子顕微鏡表面観察1試料1測定点につき5,7007,5008,600
1測定点の追加
(同一試料に限る。)
1,6002,1002,400
エネルギー分散型分光器定性分析1試料1測定点につき8,40011,00012,600
1測定点の追加
(同一試料に限る。)
1,6002,1002,400
マッピング1試料1測定点につき
(3元素以内の測定に限る。)
25,10032,70037,700
1測定点の追加
(同一試料に限る。)
1,7002,3002,600
電子線マイクロアナライザ定性分析1試料1測定点につき10,80014,10016,200
1測定点の追加
(同一試料に限る。)
4,5005,9006,800
写真1枚につき2,9003,8004,400
線分析・マッピング1試料1測定点につき
(3元素以内の測定に限る。)
30,50039,70045,800
1測定点の追加
(同一試料に限る。)
5,4007,1008,100
フーリエ変換赤外分光分析計定性分析1試料1測定点につき9,90012,90014,900
電子線マイクロアナライザ及び
フーリエ変換赤外分光分析計
異物分析1試料につき16,70021,80025,100
グロー放電発光分光分析装置によるもの深さ方向分析1試料1測定点につき15,30019,90023,000
走査型プローブ顕微鏡
(原子間力顕微鏡)
表面観察1試料1測定点につき22,60029,40033,900
表面粗さ観察1試料1測定点につき22,60029,40033,900

試験試料作製

1試料につき

試験試料作製
試験項目手数料及び使用料の金額[単位:円]
市内
中小企業
市内
大企業
(1.3倍額)
市外企業
(1.5倍額)
切削加工1,3001,7002,000
樹脂埋め・研磨加工一般的なもの4,1005,4006,200
複雑なもの9,50012,40014,300
表面観察・分析用の
試料加工
カーボンコーティング7001,0001,100
金コーティング4,1005,4006,200
白金コーティング5,5007,2008,300
断面作製16,60021,60024,900
集束イオンビーム加工観察装置によるもの1加工面につき19,10024,900
1加工面の追加
(同一試料に限る。)
9,50012,400

試験試料作製の試験項目

切削加工
観察・分析の前に、試料台等に載らない大きな試料を、工具を用いて適切な大きさに切断する場合適用されます。
樹脂埋め・研磨加工(一般的なもの)
樹脂埋め及び研磨を行って、断面の作製を行います。埋め込み場所の指定がないものなど、一般的な加工の場合に適用されます。
樹脂埋め・研磨加工(複雑なもの)
樹脂埋め及び研磨を行って、断面の作製を行います。異物観察などで埋め込み場所の指定がある場合や、対象となる素材が超硬材料などで加工が難しい場合に適用されます。
カーボンコーティング
表面観察や分析を行う際に、表面に導電性を付与する必要があります。分析対象が金や白金を含んでいる場合にはカーボンコーティングを行います。
金コーティング
表面観察や分析を行う際に、表面に導電性を付与する必要があります。通常、指定がない場合には金をコーティングします。
白金コーティング
表面観察や分析を行う際に、表面に導電性を付与する必要があります。分析対象が金を含んでいて、金コーティングが使えない場合や、高倍率の観察(おおよそ、10,000倍を目安としています)場合には、白金コーティングを行います。
断面作製
高倍率観察で手研磨では試料の作製が難しい場合や、組織観察などの複雑な観察が必要な場合には、クロスイオンポリッシャーと呼ばれるイオン照射により断面作製を行う装置を用います。断面が作製されているかを確認するために、作製後に走査型電子顕微鏡により断面の確認を行います。
集束イオンビーム加工観察装置
より高精度に、特定の微小部位を狙って断面を作製する場合には、集束イオンビーム加工観察装置と呼ばれる装置を用い加速したGaイオンビームを集束し試料に照射することで断面作製を行います。

環境試験(依頼者測定による試験)

1試料24時間につき

環境試験(依頼者測定による試験)
試験項目手数料及び使用料の金額[単位:円]
市内
中小企業
市内
大企業
(1.3倍額)
市外企業
(1.5倍額)
塩水噴霧試験機によるもの1,6002,1002,400
恒温恒湿試験器によるもの9001,2001,400

特性試験(依頼者測定による試験)

1試料1測定点につき(摩擦試験については1試料につき)

特性試験(依頼者測定による試験)
試験項目手数料及び使用料の金額[単位:円]
特性装置名市内
中小企業
市内
大企業
(1.3倍額)
市外企業
(1.5倍額)
厚さ試験蛍光X線膜厚計による一般的なもの1,3001,7002,000
摩擦試験ボールオンディスクによるもの1,3001,7002,000
皮膜抵抗試験皮膜抵抗器によるもの8001,1001,200
測色試験測色計よるもの8001,1001,200
透過率測定分光光度計によるもの9001,2001,400
表面分析フーリエ変換赤外分光分析計による定性分析3,4004,5005,100
定性分析蛍光X線分析装置による一般的なもの1,6002,1002,400

料金について

  • 「依頼者測定による場合」とは、依頼者の申出により、条例第2条第2号に規定する試験又は分析に係る測定等の一部を依頼者又はその指定する者が行うものをいう。
  • 試験、分析又は調製について特別の材料、労力等を必要とするもの及び研究又は調査の手数料の額は、実費相当額とする。
  • 特に期限を定め急を要するものの手数料又は使用料の額は、定める額の2倍の額とする。
  • 横浜市内に事務所若しくは事業所を有する者であって、中小企業基本法第2条において定められた中小企業(外部サイト)以外の者からの依頼に係る手数料又は使用料又は市内事務所若しくは事業所を有しない者であって、同条に定められた中小企業以外の者からの依頼に係る膜厚・光学定数測定による皮膜試験若しくは集束イオンビーム加工観察装置による試験試料の作製に係る手数料の額は、定める額の1.3倍の額(100円未満の端数があるときは、その端数金額を100円に切り上げる。)とする。
  • 横浜市内に住所を有しない者又は市内に事務所若しくは事業所を有しない個人若しくは法人その他の団体からの依頼に係る手数料(膜厚・光学定数測定による皮膜試験及び集束イオンビーム加工観察装置による試験試料の作製に係るものを除く。)又は使用料の額は、定める額の1.5倍の額(100円未満の端数があるときは、その端数金額を100円に切り上げる。)とする。

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このページへのお問合せ

経済局中小企業振興部工業技術支援センター

電話:045-788-9000

電話:045-788-9000

ファクス:045-788-9555

メールアドレス:ke-kogyogijutsu@city.yokohama.jp

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