依頼試験の手数料について

最終更新日 2023年11月13日

工業技術支援センターにおける依頼試験に係る手数料及び依頼者測定の機器使用料は次のとおりです。
（平成30年4月1日時点で改正の項目は赤字にしています。）

また、手数料・使用料の一覧をＰＤＦでダウンロードできますので、ご利用ください。

依頼試験手数料・使用料（PDF：135KB）

手数料・使用料のお振込みで、ご利用できる金融機関については、収納可能金融機関一覧をご覧ください。

環境試験（依頼試験）

1試料24時間につき

環境試験（依頼試験）
試験項目		手数料及び使用料の金額[単位：円]
試験項目		市内中小企業	市内大企業（1.3倍額）	市外企業（1.5倍額）
塩水噴霧試験機によるもの		2,900	3,800	4,400
恒温恒湿試験器によるもの		2,700	3,600	4,100
キャピラリ電気泳動装置によるもの		5,200	6,800	7,800
その他の環境試験	一般的なもの	1,000	1,300	1,500
その他の環境試験	複雑なもの	3,300	4,300	5,000
証明書発行		300	300	300

特性試験（依頼試験）

1試料1測定点につき（但し、摩擦試験については1試料につき）

特性試験（依頼試験）
試験項目			手数料及び使用料の金額[単位：円]
特性	装置名		市内中小企業	市内大企業（1.3倍額）	市外企業（1.5倍額）
厚さ試験	蛍光X線膜厚計	一般的なもの	2,400	3,200	3,600
	蛍光X線膜厚計	複雑なもの	6,100	8,000	9,200
	電解式膜厚計		2,700	3,600	4,100
粗さ・段差測定	触針式表面形状測定器		4,100	5,400	6,200
摩擦・硬さ試験	ボールオンディスク		8,000	10,400	12,000
	摩擦摩耗試験機		9,100	11,900	13,700
	硬さ試験機		6,000	7,800	9,000
密着性・付着性試験	摩擦摩耗試験機		10,200	13,300	15,300
密着性・付着性試験	接触角計		4,300	5,600	6,500
皮膜抵抗試験	皮膜抵抗器		1,100	1,500	1,700
測色試験	測色計		1,100	1,500	1,700
透過率測定	分光光度計		1,200	1,600	1,800
膜厚・光学定数測定	エリプソメータ		6,400	8,400
表面観察	マイクロスコープ	表面観察	700	1,000	1,100
	マイクロスコープ	計測をともなうもの	1,100	1,500	1,700
	３Ｄ表面観察装置		1,000	1,300	1,500

分析・観察（依頼試験）

測定単位は各装置の分析内容参照

分析・観察（依頼試験）
試験項目			手数料及び使用料の金額[単位：円]
装置名	分析内容		市内中小企業	市内大企業（1.3倍額）	市外企業（1.5倍額）
金属等組成分析（添加剤の分析を除く。）	めっき液分析	1試料1成分につき	2,300	3,000	3,500
X線回折装置	定性分析	1試料1測定点につき	12,900	16,800	19,400
熱分析装置	-	1試料につき	11,800	15,400	17,700
蛍光X線分析装置	定性分析（一般的なもの）	1試料1測定点につき	7,600	9,900	11,400
蛍光X線分析装置	定性分析（複雑なもの）	1試料1測定点につき	9,800	12,800	14,700
走査型電子顕微鏡	表面観察	1試料1測定点につき	5,700	7,500	8,600
走査型電子顕微鏡	表面観察	1測定点の追加（同一試料に限る。）	1,600	2,100	2,400
エネルギー分散型分光器（走査型電子顕微鏡オプション）	定性分析	1試料1測定点につき	8,400	11,000	12,600
	定性分析	1測定点の追加（同一試料に限る。）	1,600	2,100	2,400
	マッピング	1試料1測定点につき（３元素以内の測定に限る。）	25,100	32,700	37,700
	マッピング	1測定元素の追加（同一測定点に限る。）	1,700	2,300	2,600
電子線マイクロアナライザ	定性分析	1試料1測定点につき	10,800	14,100	16,200
		1測定点の追加（同一試料に限る。）	4,500	5,900	6,800
		写真1枚につき	2,900	3,800	4,400
	線分析・マッピング	1試料1測定点につき（３元素以内の測定に限る。）	30,500	39,700	45,800
	線分析・マッピング	1測定元素の追加（同一測定点に限る。）	5,400	7,100	8,100
フーリエ変換赤外分光分析計	定性分析	1試料1測定点につき	9,900	12,900	14,900
電子線マイクロアナライザ及びフーリエ変換赤外分光分析計	異物分析	1試料につき	16,700	21,800	25,100
グロー放電発光分光分析装置によるもの	深さ方向分析	1試料1測定点につき	15,300	19,900	23,000
走査型プローブ顕微鏡（原子間力顕微鏡）	表面観察	1試料1測定点につき	22,600	29,400	33,900
走査型プローブ顕微鏡（原子間力顕微鏡）	表面粗さ観察	1試料1測定点につき	22,600	29,400	33,900

試験試料作製

1試料につき

試験試料作製
試験項目			手数料及び使用料の金額[単位：円]
試験項目			市内中小企業	市内大企業（1.3倍額）	市外企業（1.5倍額）
切削加工			1,300	1,700	2,000
樹脂埋め・研磨加工	一般的なもの		4,100	5,400	6,200
樹脂埋め・研磨加工	複雑なもの		9,500	12,400	14,300
表面観察・分析用の試料加工	カーボンコーティング		700	1,000	1,100
	金コーティング		4,100	5,400	6,200
	白金コーティング		5,500	7,200	8,300
	断面作製		16,600	21,600	24,900
	集束イオンビーム加工観察装置によるもの	1加工面につき	19,100	24,900
	集束イオンビーム加工観察装置によるもの	1加工面の追加（同一試料に限る。）	9,500	12,400

試験試料作製の試験項目

切削加工: 観察・分析の前に、試料台等に載らない大きな試料を、工具を用いて適切な大きさに切断する場合適用されます。

樹脂埋め・研磨加工（一般的なもの）: 樹脂埋め及び研磨を行って、断面の作製を行います。埋め込み場所の指定がないものなど、一般的な加工の場合に適用されます。

樹脂埋め・研磨加工（複雑なもの）: 樹脂埋め及び研磨を行って、断面の作製を行います。異物観察などで埋め込み場所の指定がある場合や、対象となる素材が超硬材料などで加工が難しい場合に適用されます。

カーボンコーティング: 表面観察や分析を行う際に、表面に導電性を付与する必要があります。分析対象が金や白金を含んでいる場合にはカーボンコーティングを行います。

金コーティング: 表面観察や分析を行う際に、表面に導電性を付与する必要があります。通常、指定がない場合には金をコーティングします。

白金コーティング: 表面観察や分析を行う際に、表面に導電性を付与する必要があります。分析対象が金を含んでいて、金コーティングが使えない場合や、高倍率の観察（おおよそ、10,000倍を目安としています）場合には、白金コーティングを行います。

断面作製: 高倍率観察で手研磨では試料の作製が難しい場合や、組織観察などの複雑な観察が必要な場合には、クロスイオンポリッシャーと呼ばれるイオン照射により断面作製を行う装置を用います。断面が作製されているかを確認するために、作製後に走査型電子顕微鏡により断面の確認を行います。

集束イオンビーム加工観察装置: より高精度に、特定の微小部位を狙って断面を作製する場合には、集束イオンビーム加工観察装置と呼ばれる装置を用い加速したGaイオンビームを集束し試料に照射することで断面作製を行います。

環境試験（依頼者測定による試験）

1試料24時間につき

環境試験（依頼者測定による試験）
試験項目	手数料及び使用料の金額[単位：円]
試験項目	市内中小企業	市内大企業（1.3倍額）	市外企業（1.5倍額）
塩水噴霧試験機によるもの	1,600	2,100	2,400
恒温恒湿試験器によるもの	900	1,200	1,400

特性試験（依頼者測定による試験）

1試料1測定点につき（摩擦試験については1試料につき）

特性試験（依頼者測定による試験）
試験項目		手数料及び使用料の金額[単位：円]
特性	装置名	市内中小企業	市内大企業（1.3倍額）	市外企業（1.5倍額）
厚さ試験	蛍光X線膜厚計による一般的なもの	1,300	1,700	2,000
摩擦試験	ボールオンディスクによるもの	1,300	1,700	2,000
皮膜抵抗試験	皮膜抵抗器によるもの	800	1,100	1,200
測色試験	測色計よるもの	800	1,100	1,200
透過率測定	分光光度計によるもの	900	1,200	1,400
表面分析	フーリエ変換赤外分光分析計による定性分析	3,400	4,500	5,100
定性分析	蛍光X線分析装置による一般的なもの	1,600	2,100	2,400

料金について

「依頼者測定による場合」とは、依頼者の申出により、条例第２条第２号に規定する試験又は分析に係る測定等の一部を依頼者又はその指定する者が行うものをいう。
試験、分析又は調製について特別の材料、労力等を必要とするもの及び研究又は調査の手数料の額は、実費相当額とする。
特に期限を定め急を要するものの手数料又は使用料の額は、定める額の2倍の額とする。
横浜市内に事務所若しくは事業所を有する者であって、中小企業基本法第２条において定められた中小企業（外部サイト）以外の者からの依頼に係る手数料又は使用料又は市内事務所若しくは事業所を有しない者であって、同条に定められた中小企業以外の者からの依頼に係る膜厚・光学定数測定による皮膜試験若しくは集束イオンビーム加工観察装置による試験試料の作製に係る手数料の額は、定める額の1.3倍の額(100円未満の端数があるときは、その端数金額を100円に切り上げる。)とする。
横浜市内に住所を有しない者又は市内に事務所若しくは事業所を有しない個人若しくは法人その他の団体からの依頼に係る手数料(膜厚・光学定数測定による皮膜試験及び集束イオンビーム加工観察装置による試験試料の作製に係るものを除く。)又は使用料の額は、定める額の1.5倍の額(100円未満の端数があるときは、その端数金額を100円に切り上げる。)とする。

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このページへのお問合せ

経済局中小企業振興部工業技術支援センター

電話：045-788-9000

ファクス：045-788-9555

メールアドレス：ke-kogyogijutsu@city.yokohama.jp