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X線回折装置

最終更新日 2024年6月28日

本事業は終了しました

横浜市工業技術支援センターは、令和６年３月31日をもって廃止しました。長らくのご愛顧、誠にありがとうございました。以下は、過去の情報ですのでご注意ください。

X線回折装置の紹介

X線回折装置の外観写真
X線回折装置の外観

概要

特徴

試料にX線を照射し回折したX線を計測することで、試料中の結晶に関する情報を得ることができます。主に結晶性物質の定性・定量分析に用いられ、薄膜、薄板状の試料や粉末試料を非破壊で分析することが可能です。また、本装置は微小部測定用のコリメータとカメラを備えており、0.5mm四方程度の領域を測定することができます。

原理

物質にX線を照射すると、X線が物質中の原子の周りにある電子によって散乱し、干渉し合って特定の方向で強め合う回折現象が起こります。回折したX線が観測される角度は物質中の結晶の構造（＝原子の配列）によって固有であることから、試料に含まれる結晶の定性分析を行うことができます。

装置性能及び仕様

装置型番： Smart Lab　（リガク製）
導入年月：平成30年　2月

料金

依頼試験手数料
区分	単位	金額
X線回折装置によるもの	１試料１測定点につき	12,900円

料金について

試験、分析又は調製について特別の材料、労力等を必要とするもの及び研究又は調査の手数料の額は、実費相当額とする。
特に期限を定め急を要するものの手数料又は使用料の額は、定める額の2倍の額とする。
横浜市内に事務所又は事業所を有する者であって、中小企業基本法第２条において定められた中小企業（外部サイト）以外からの依頼に係る手数料又は使用料の額は、定める額の1.3倍の額(100円未満の端数があるときは、その端数金額を100円に切り上げる。)とする。
横浜市内に住所を有しない者又は市内に事務所若しくは事業所を有しない個人若しくは法人その他の団体からの依頼に係る手数料又は使用料の額は、定める額の1.5倍の額(100円未満の端数があるときは、その端数金額を100円に切り上げる。)とする。